특허 번호 10-2024-0042222
광학 촬영을 기반으로 피사체의 각종 정보를 획득하기 위한 광 검출 기반 피사체 정보 획득 시스템
적용분야
• 다수의 피크 파장들을 시분할 다중화 방식으로 단일화
• 분석/검출 응답성 최대한 확보
• 입력광들의 상호 간섭/왜곡 최소화
• 최종 분석 대상인 반사광 내에서 다종 피크 파장들 간 간섭 방지
• 더욱 간소화된 시스템으로 부품 및 설계 비용 최소화
• 피사체에 특정 파장의 광을 조사한 후, 해당 광의 흡수/반사 특성을
분석함으로써 피사체의 성질 판별
• 동일 재질에 서로 다른 분광 특성을 나타내는 다수의 피크 파장을
활용함으로써 정확한 판별 결과 도출 가능
• 피크 파장들 간의 간섭/왜곡을 최소화할 수 있는 광 검출 기반
피사체 정보 획득 시스템
• 시스템이 간소화되어 부품 및 설계 비용 최소화 가능
• 다종의 피크 파장이 사용되는 경우, 각 피크 파장 레이저 간
간섭이 발생 가능
• 촬영 시스템의 신뢰도 저하, 다수의 수광 센서 설치 등의 문제 발생
• 다수 광원으로부터 출사되는 다수의 피크 파장들은 시분할 다중화 방식
(Time Division Multiplexing)으로 단일화
• 분석/검출 응답성 최대한 확보
부산대학교 광메카트로닉스공학과 김승철 교수
발명의 명칭 | 출원(등록)번호 | 출원(등록)일자 |
광 검출 기반 피사체 정보 획득 시스템 | 10-2024-0042222 | 2024. 3. 28. |