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인공지능 및 다중 프로세싱 처리 기법을 활용한 고성능 불량 이미지 수집 및 탐지 시스템
특허 번호 10-2022-0133393
광역 재귀 반사 필름 내 불량 탐지를 위한 비전 시스템 제안
적용분야
스마트 공장(제조 생산)
기술 개요
• 저비용 비전 조명을 활용한 인공지능 불량 탐지 비전 시스템 기술
대표 Diagram
Keywords
- IT
- AI
종래기술
• 크기가 크고 고가의 비전 조명 필수 설치
• 해상도가 높은 이미지를 인공지능 기반으로 분석하기에
고가의 GPU 요구
대상기술
• 일반 소형 조명으로 촬영 시 발생하는 플리커 현상을 제어 가능
• 촬영된 이미지 분할 후, 분석하여 GPU 메모리 이슈 해결
종래 기술의 한계
• 기존 비전 조명으로는 촬영 대상 재귀 반사 필름 내 결함 탐지
불가능(특수제작 필요)
• 제품 밝기 및 재질에 따라 반사가 관찰되어 분석 불가능
대상기술의 경쟁력
• 불량이 함께 분할되는 것을 방지하는 알고리즘 설계
• 제품 밝기에 따라 촬영 범위를 조절하여, 빛 반사 현상 회피하여
촬영 가능
연구자 정보
부산대학교 정보컴퓨터공학부 최윤호 교수
지식재산권 현황
| 발명의 명칭 | 출원(등록)번호 | 출원(등록)일자 |
| 광역 재귀 반사 필름의 불량 탐지를 위한 인공지능 비전 시스템 및 방법 | 10-2022-0133393 | 2022.10.17. |
기술문의
부산대학교 산학협력단 기술사업부
jschoi7516@pusan.ac.kr
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